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Aktuelles

3D-µ-Normale für optische Mikroskope
8. Mai 2023

3D-µ-Normale für optische Mikroskope

3D-µ-Normale für optische Mikroskope. Ergebnisse des Gemeinschaftsprojekts zwischen PTB und point electronic werden erstmals auf der Control Messe 2023 (PTB-Stand, 9104) präsentiert.

3D-µ-Normale für optische Mikroskope
Posterbeitrag Microscopy Conference 2023
27. Februar 2023

Aktuelle Publikation

Posterbeitrag auf der Microscopy Conference 2023 zum Thema "Using Machine Learning and Topographic SEM Imaging for Software Assisted Fractography"

Posterbeitrag Microscopy Conference 2023
Geometrische Analysen im REM
7. Dezember 2020

Neue Veröffentlichung

Veröffentlichung zum Thema "Geometrische Analysen im REM". Der Link zur kompletten Veröffentlichung: Geometrical Analysis in SEM

Geometrische Analysen im REM
Poster Nanoscale 2019
15. Oktober 2019

Aktuelle Publikation

Posterbeitrag auf der Nanoscale 2019 zum Thema: "Calibration of 3D reference standards using metrological large range AFM and calibrated confocal microscopy"

Poster Nanoscale 2019
DISS Topografie Modul mit 3D Kalibrierung
23. Oktober 2018

3D Kalibrierung jetzt in DISS REM Steuerung integriert

Das Live-3D-Topografie Modul der REM Steuerung DISS nutzt ab sofort die M2C 3D Kalibriertechnologie. Damit können Sie quantitative Topografie-Messungen am REM durchführen. Sie benötigen dazu die DISS 3D Erweiterung für ihr REM und ein M2C Kalibriernormal. Weitere Informationen zur DISS 3D Topografie Erweiterung finden sie hier.

DISS Topografie Modul mit 3D Kalibrierung