21. September 2020
Stellenausschreibung Softwareentwickler
Für unseren Hauptsitz in Halle (Saale) suchen wir einen Full-Stack Softwareentwickler (C#, .NET). Wir freuen uns auf Ihre Bewerbung.
m2c microscopy measurement & calibration
Aktuelles
15. Oktober 2019
Aktuelle Publikation
Posterbeitrag auf der Nanoscale 2019 zum Thema: "Calibration of 3D reference standards using metrological large range AFM and calibrated confocal microscopy"
18. September 2019
Aktuelle Publikation
Aktuelle Publikation anlässlich der 52. Metallographie-Tagung 2019 in Dresden zum Thema In-situ Messung der 3D-Topografie von Bruchflächen im REM. Die Daten wurden mit dem DISS BSE-Topografie-System der point electronic GmbH aufgenommen.
23. Oktober 2018
3D Kalibrierung jetzt in DISS REM Steuerung integriert
Das Live-3D-Topografie Modul der REM Steuerung DISS nutzt ab sofort die M2C 3D Kalibriertechnologie. Damit können Sie quantitative Topografie-Messungen am REM durchführen. Sie benötigen dazu die DISS 3D Erweiterung für ihr REM und ein M2C Kalibriernormal. Weitere Informationen zur DISS 3D Topografie Erweiterung finden sie hier.
1. November 2017
m2c jetzt bei point electronic GmbH
Alle m2c Produkte und Dienstleistungen werden unter dem Dach der point electronic GmbH weitergeführt. Damit wird die Entwicklung von Topographie- und 3D-Techniken im REM weiter vorangetrieben, sowie der point electronic GmbH der Zugang zu weiteren Metrologie- und Surface Science Applikationen eröffnet. Weitere Informationen finden sie hier und auf der Webseite der point electronic GmbH
2. Dezember 2016
Neue Raunormale für hochauflösende Messtechniken
m2c hat zusammen mit der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) neuartige Raunormale für hochauflösende Oberflächenmesstechniken entwickelt und erprobt. Hierbei kann die gewünschte Rauheit flexibel vorgegeben und skalierbar übertragen werden. Die Strukturen werden mittels fokussierten Ionenstrahlen (Focussed Ion Beam, FIB) auf ein geeignetes Substrat geschrieben. Dabei können auch die aus der 2D-Rauheitsmesstechnik vorteilhaften Profilwiederholungen realisiert werden. Mehr Informationen hier: PTB Forschungsnachrichten