Aktuelles: m2c microscopy measurement and calibration

Aktuelles

2. Dezember 2016

Neue Raunormale für hochauflösende Messtechniken

m2c hat zusammen mit der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) neuartige Raunormale für hochauflösende Oberflächenmesstechniken entwickelt und erprobt. Hierbei kann die gewünschte Rauheit flexibel vorgegeben und skalierbar übertragen werden. Die Strukturen werden mittels fokussierten Ionenstrahlen (Focussed Ion Beam, FIB) auf ein geeignetes Substrat geschrieben. Dabei können auch die aus der 2D-Rauheitsmesstechnik vorteilhaften Profilwiederholungen realisiert werden. Mehr Informationen hier: PTB Forschungsnachrichten

1. Januar 2016

Live 3D Topographie

Die m2c 3D Topografie Lösung (microShape) ist jetzt in die DISS Produktpalette der point electronic GmbH integriert. Damit können Sie Ihr REM um ein komplettes 3D Topografie-Messsystem erweitern.

1. Oktober 2015

Posterpreis

Auf der MC 2015 in Göttingen wurde das Poster "Topographic contrast of HR-SEM" von Ulrich Gernert (TU Berlin) mit dem Posterpreis (Advances in Instrumentation, Detectors, FIB and Preparation) ausgezeichnet. Für die darin vorgestellte Auswertung von REM-Bilddaten wurde m2c Software um spezielle radiale Histogrammanalysen erweitert.

19. Januar 2015

Neue Veröffentlichung

Veröffentlichung zum Thema "Automated Geometric SEM Calibration". Der Link zur kompletten Veröffentlichung: Automated Geometric SEM Calibration