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FIB Dienstleistungen

Prototyping

FibFib 2
Nachträgliche Markierung einer Si-Probe

Wir bieten Ihnen Möglichkeiten zur Herstellung von nahezu frei gestaltbaren Mikrostrukturen. Durch die mittels FIB mögliche Herstellung von Prototypengeometrien aller Art können Sie verschiedene Aspekte an Ihrem Systemdesign testen, oder aber die Funktionalität Ihrer Modellstruktur prüfen.

Probenbearbeitung

Mit Focused Ion Beam (FIB) ist die nachträgliche Bearbeitung von unterschiedlichsten Proben möglich. Ein Beispiel ist die nachträgliche Markierung von Si-geätzten Proben für die Qualitätskontrolle.

Scripting

Sie haben ein Modell oder das Design einer Mikrostruktur und eine Focused Ion Beam (FIB) Anlage und wollen den Herstellungsprozess automatisieren? Basierend auf umfangreichen Erfahrungen bieten wir Ihnen sowohl die Umsetzung von Modellen in die FIB Gerätesprache, als auch die Automatisierung von Prozess- und Herstellungsabläufen in FIB Geräten an.

Entwicklung

Wir helfen Ihnen bei der Planung, Entwicklung und Umsetzung von FIB Anwendungen jeder Art. Es muss sich dabei nicht nur um die Herstellung von bestimmten Strukturen handeln. Wir entwickeln neben Fertigungsverfahren auch individuelle Analyseketten für Fragestellungen in der Materialwissenschaft, Qualitätssicherung oder Messtechnik.